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- 壓控溫補晶振
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常見問題
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- 產(chǎn)品型號：95749439
- 頻率：32.768K
- 尺寸：3.2*2.5mm
- 產(chǎn)品介紹：產(chǎn)品"7XZ-32.768KDE-T"應用范圍非常廣闊,比如多種電子消費類,手機應用,藍牙多功能播放器,無線通訊產(chǎn)品,平板電腦等多個領域.
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石英晶振7XZ,石英晶體振蕩器32.768K,臺灣進口晶技晶振,7XZ-32.768KDE-T
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石英晶振7XZ,石英晶體振蕩器32.768K,臺灣進口晶技晶振日本進口貼片晶振品牌【EPSON】日本愛普生【SEIKO】日本精工【KDS】日本大真空【CITIZEN】日本西鐵城【RIVER】日本大河【kyocera】日本京瓷32.768KHZ系列,在當今全球晶振市場說的上是質優(yōu)價廉,產(chǎn)品"7XZ-32.768KDE-T"本身外觀是多種化,體積有大有小,有二個腳SMD焊接模式,也有三個腳SMD焊接模式,一樣有四個腳焊接模式,還有時鐘模塊焊接模式,產(chǎn)品具有無源32.768KHZ,也有帶電壓模式的32.768KHZ晶體系列,產(chǎn)品應用范圍非常廣闊,比如多種電子消費類,手機應用,藍牙多功能播放器,無線通訊產(chǎn)品,平板電腦等多個領域,因32.768KHZ晶體本身外觀款式多元化,所以適合多個產(chǎn)品應用.并且滿足歐盟ROHS環(huán)保要求,晶體"7XZ-32.768KDE-T"本身有重量輕,體積小,超薄型等多種優(yōu)勢,得到市場認可.
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| 型號 | 7XZ |
| 頻率范圍 | 32.768K |
| 頻率穩(wěn)定度 | A:±100 B:±50 C: ±30 D: ±25 |
| 輸出電平 | CMOS |
| 工作溫度 | -10℃~+60℃,-20℃~+70℃,或客戶要求 |
| 保存溫度 | -40℃~+85℃ |
| 負載電容 | 15pF |
| 輸出對稱 | 40% ~ 60% or 45% ~ 55%(at 55%V DC) |
| 標準包裝 |
2000/pcs |
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產(chǎn)品的可靠性（信賴性）:
產(chǎn)品的可靠性可以通俗的理解為：產(chǎn)品生產(chǎn)完成后,不會因常規(guī)的搬運,儲存而使其性能受影響,不會因客戶的焊接,清洗和封裝等各種使用條件而影響性能.產(chǎn)品的可靠性可以通過"7XZ-32.768KDE-T"各種可靠性試驗來衡量,目前常見的可靠性試驗有：
高溫儲存試驗 125℃±10℃；1000H±24H
溫度循環(huán)試驗 T1 = -55℃±10℃ T2= 125℃±10℃；循環(huán)次數(shù)10次.（溫度轉換約30分鐘）
溫度沖擊試驗 T1 = -55℃±10℃ T2= 125℃±10℃；循環(huán)次數(shù)10次.（溫度轉換時間5秒）
恒溫恒濕試驗 TC 85±10℃ H 85% ；1000H±24H
可焊性（焊錫）試驗 230±10℃；3 s
耐焊接試驗 260±10℃；10 s
跌落試驗 75 cm；3 次.
振動試驗 頻率10 Hz — 2000 Hz；振幅 1.5 mm；每方向 40 分鐘.
老化率試驗 TC 85±10℃；300 H
壽命試驗（MTBF）；85℃or125℃；1000H；利用公式及失效產(chǎn)品數(shù)計算出產(chǎn)品模擬壽命.
其余試驗主要是通過對比試驗前后產(chǎn)品的電性能變化情況來衡量產(chǎn)品的可靠性,其中高溫儲存試驗,老化率試驗和壽命試驗考察產(chǎn)品的儲存條件與儲存時間；溫度循環(huán)試驗"7XZ-32.768KDE-T"和溫度沖擊試驗考察產(chǎn)品在客戶端使用時對溫度變化的耐受情況.產(chǎn)品在制程中無明顯污染,銀層牢固,封焊時露點符合要求,檢漏無漏氣就能滿足要求.
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臺灣晶技電子立基臺灣,是一家專業(yè)石英頻率控制元件"7XZ-32.768KDE-T"制造商.主要產(chǎn)品包括『石英振蕩子』、『石英振蕩器』、『壓控石英振蕩器』、『溫度補償石英振蕩器』,并且是臺灣唯一擁有生產(chǎn)『恒溫控制石英振蕩器』技術的制造商,本著“顧客至上、質量第一、信譽為本、持續(xù)改進”的質量方針,以專業(yè)專注為宗旨在,數(shù)碼產(chǎn)品等領域中榮獲“中國數(shù)碼電子晶振第一家的稱號”，在國內服務數(shù)千家高科技企業(yè).
